电波暗室性能的提高在于减小测量误差

电波暗室是所有内表面无反射材料的屏蔽室。模拟自由空间的传信环境主要用于微波天线系统的参数测量。随着电子技术的不断发展，电波暗室已经被更多的人所理解和应用，那么如何判断电波暗室的性能呢？让我们来看看。

一.电波暗室的电性能指标

通常表示六个指标，如静区、反射率电平、交叉极化、多路径损耗、幅度均匀性和工作频率。

1.多路径损耗：路径损耗不均匀会旋转电磁波的极化表面。如果波方向旋转测试天线，接收信号的起伏不得超过±0.25dB，多路径损失可以忽略。

2.场均匀性:在暗室静区，沿轴移动待测天线，要求起伏不超过±2dB；待测天线横向上下移动在静区截面上，接收信号的起伏不得超过±0.25dB。

3.交叉极化：暗室结构对称性不严格.吸波材料对各种极化波吸收的不一致性以及暗室测试系统，使电波在暗室传播过程中极化不纯。如果测试天线与发射天线的极化面正交平行，则测试场的强比小于-25dB，认为交叉极化符合要求。

二.电波暗室性能指标

在利用光发射法和能量物理法模拟暗室性能时，应考虑电波传输去耦、极化去耦、标准天线方向图因素、吸波材料本身的垂直入射性能和斜入射性能、多次反射等影响。但在实际的工程设计过程中，吸波材料的性能往往是暗室性能的关键决定因素。

三.天线测量误差

1.测试距离有限造成的误差。设置待测量的是平面天线，接收的来波沿其主波束的轴向。如果测试距离大小，待测天线不同部位接受的场不能相同，因此有平方根律相位差。如果待测天线位于源天线远场区的边界2D2/λ，其口径边缘和相位中心有22个场.5度的相位差.如果测试距离加倍，相位差减半。对于测量中等旁瓣电平的天线，距离为2D2/λ通常已经足够了，测量的增益约为0.06dB。缩短测试距离会迅速增加测量误差，侧瓣会与主波束合并成肩台式，甚至合并。.25dB锥销将测量的增益降低到0左右.1dB，并造成近侧瓣的一些误差。

2.反射。由于波程差作为位置函数而迅速变化，直射波受到周围物体反射的干扰，在测试区域形成场的变化，使起伏长度属于波长的数量级。例如，直射波低20dB反射波可引起-0.92～+0.83dB功率误差取决于两者之间的差异；相位测量的误差范围是±5.7°，但如果反射波的场比直射波低40dB，侧出的幅度和相位只有±0.09与±0.6°误差。反射在低侧瓣的测量中特别有害。一个小的反射可以通过主瓣耦合到待测天线来完全覆盖耦合到侧瓣的直射波。如果相耦合的直射强度等于反射波，则测量的侧瓣电平将提高6dB左右，或在测得的波瓣图中成为零点。

3.其他误差。也可能导致天线测量误差的因素有：低频时与电抗近场耦合明显；测量天线对准误差；其他干扰信号；测试电缆引起的误差。

电波暗室的应用越来越广泛，为了满足人们的需求，电波暗室的参数和各个方面都会得到最好的改进。