实验桌在电磁兼容测试中对测量有什么影响

随着各国电磁兼容性规范的推广和实施，人们越来越关注商品的电磁兼容性问题，主要电子设备制造商也越来越关注商品的电磁兼容性测试，特别是电磁辐射骚扰是否符合相关标准要求。在辐射骚扰试验中，场所对试验结果的影响非常明显。同一仪表设备在不同的测试地点会得到不同的测量结果，所以每个暗室的数据测试都有差异。EN55022:2010是欧洲为解决应用领域的信息技术设备无线电骚扰电平而制定的统一试验规范，规定了骚扰限值、测量方法、操作标准和结果。EN在2010年:2010辐射骚扰试验中，桌面设备被放置在非金属桌子上，如图1所示。规范中只提到桌面的大小.5m×1.0m，但是对试验台的材料没有明文规定。由于不同材料制成的试验台介电常数不同，导致辐射骚扰试验结果不同。本文对辐射骚扰测量的影响进行了定量分析。

图1.辐射骚扰试验中台式 EUT 布置

试验台对场地特征的影响

EN55022:2010要求在宽试验场地进行辐射骚扰试验。宽试验场地应平整，无空架电缆线，周围无反射器。这个地方足够大，可以在要求的距离处置天线，并使天线、测试设备和反射物体之间有足够的间距。然而，随着社会的发展，很难找到一个符合规定的理想场所。因此，无线电暗室作为一个宽阔的试验场的替代场所，得到了广泛的应用。该规范要求归一个地方衰减NSA）这是确认无线电波暗室能否获得有效结果的关键指标。无线电波暗室是为模拟宽度测试场所而建造的。无线电波暗室与宽阔场所的差值应小于4dB，确认两者的相似程度。

试验表对试验结果的影响，如图2所示。

图2

在10m在暗室没有检测台的前提下，根据双锥天线使用信号源(频率30)~250MHz）多数天线(250频率)~1000MHz）发送电磁波。一组场地衰减数据通过接收器、另一组双锥天线和大多数天线测量。统一场所衰减的计算公式：

A_N = V_T - V_R - AF_T - AF_R - ΔAF_TOT

式中：V_T —— 发射天线输入电压，dBμV； V_R —— 接收天线输出电压，dBμV； AF_T —— 发射天线的天线系数，dB； AF_R ——接收天线的天线系数，dB；

ΔAF_TOT —— 互阻抗修正系数，dB（仅适用 于用偶极子天线测量、且测量距离为 3 m 时的情况， 除此之外，ΔAF_TOT = 0）

表1.双锥天线和对数天线测得的场地衰减数据

表 1 中，Aideal 为标准的归一化场地衰减值，偏差为 Aideal 减去 AN，且均小于 4 dB。

然后分别在采用泡沫桌和木桌情况下测得另两组场地衰减数据，如图 3 和图 4 所示。

图3.泡沫桌场地衰减数据测量之一

图4.木桌场地衰减数据测量之一

图5.场地衰减数据比较

结语

由于泡沫的介电常数接近气体，比木材小，所以在暗室中使用泡沫桌时测得的地方衰减数据与没有检测桌的地方相似；暗室使用木桌时，测得的地方衰减数据与没有检测台时的数据有很大区别。由于木桌的介电常数较大，图5中使用木桌的暗室衰减AN稍大，在AFT，AFR，ΔAFTOT在不变的前提下，接收器测量的电平值较大VR将减小。

因此，当电波暗室采用木桌或其他介电常数材料制成的试验桌等辅助设备时，会使场地衰减AN增加导致接收器测量的场强度降低，导致测试结果的差异。试验台等辅助设备是试验场所有效性的组成部分。因此，建议在选择暗室辅助设备时，选择介电常数较小的材料，并进行场地衰减的测量，以确保每个暗室测量结果的一致性。